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化工壓力容器和管道壁厚的測定

http://njchuangji.com 2015年09月19日        

 摘 要:化工壓力容器和管道壁厚測定的原理、方法、選點及示值的可靠性分析?;と萜骱凸艿朗芄に嚱橘|的腐蝕和沖刷導致其壁厚的減薄和損壞,應力集中部位和焊接熱影響區(qū)壁厚的測定和獲得準確、可靠的數(shù)據(jù)在容器管道檢測中具有的重要地位和作用。 
       關鍵詞:壓力容器 管道壁厚 測厚儀 

       一、測厚原理和測厚儀 
       測厚儀多為超聲波測厚儀,其原理是基于超聲波在工件中的傳播和反射,因為超聲波在同一均勻介質中傳播聲速為一常數(shù),故被測工件越厚,超聲波在工件中傳播的時間越長。而且,當超聲波通過不同介質的界面時會反射。測厚時,從探頭換能器發(fā)出的脈沖超聲波(老式共振法測厚時為連續(xù)超聲波)經耦合劑到達被測工件。此時,部分超聲波被工件表面反射,另一部分則穿過被測工件并被工件底面所反射,經換能器被儀器接收。測出工件表面反射形成的界面波及工件底面反射波之間的時間差,再根據(jù)聲速、時間、距離(厚度)三者之間的關系,便可求出被測工件的厚度,即: 
       h=ct/2 
       式中 h—距離(厚度) 
       c—聲速 
       t—聲波傳播時間 
       測厚儀分為單晶片探頭和雙晶片探頭,如圖1所示。圖1中A為單晶片探頭探測,B為雙晶片探頭探測。國內早期的測厚儀多為單晶片探頭,探頭晶片兼具發(fā)射和接受超聲波之功能。雙晶片探頭是一個晶片T發(fā)射超聲波,另一個探頭R接收超聲波。中間用隔聲層隔開,并在晶片下加延遲塊。這種探頭的檢測靈敏度較高,目前國內外儀器均采用。


圖1 


       二、測量方法和注意事項 
       1.測量方法 
       ( 1)一次測量法。適用于接觸面較大和內外表面不平行度較?。ǎ?/4波長的工件,此時一個點只需測量一次)。 
       (2)二次測量法。對背面有腐蝕坑或內外表面不平行度較大及曲率較大的工件,應在第一次測完后再將探頭旋轉90°取兩次測量中的較小值作為測量值。 
       (3)線連續(xù)測量法。在一條固定線上每相距5mm或5mm以下測量一次,用此間隔連續(xù)進行測量,此法適用于測量背面有腐蝕溝槽的工件。 
       (4)圓圈內多點測量法。以一點為中心在某一直徑范圍內(一般以直徑20一30mm為宜)測量,以找出最薄點,如圖2所示。 
       (5)綜合測量法:用于腐蝕嚴重或對測量結論要求較精確的場合,測量時以一點為中心,綜合使用以上方法,以更小間隔移動探頭,并將測量結果以等高線形式記錄(圖3)。此法可找出壁厚最薄點,確定小面積的腐蝕坑穴。

                                         


                  
               圖2                                                                                                                       圖3 
       2.  注意事項 
       老式儀器,如CH一J一1型,不但線路落后、結構笨重,而且由于采用單晶片探頭,靈敏度低且不穩(wěn)定,測厚時必須打磨出一平整光滑的測點,使用時由于靜區(qū)開得太大出現(xiàn)雙倍讀數(shù),再加上儀器的線性不好,常使某一區(qū)段的測值偏高或偏低。近年來出品的數(shù)碼管高精度袖珍式儀器,由于采用了先進的工藝技術、元器件和雙晶片分割式探頭,具有檢測靈敏度高、范圍廣、誤差小、便于攜帶和調試等優(yōu)點。用這種儀器測厚時,需注意以下幾點: 
       (1)雙晶片中,發(fā)射晶片的功率較大,使用時發(fā)射插座和接收插座的插位不應插錯,否則靈敏度稍有降低。 
       (2)袖珍式數(shù)字測厚儀,由于檢測靈敏度高,在工件表面有油漆、氧化皮或銹鐵時,均可直接測厚(不平時稍加打磨),但此時測出的工件厚度包括了氧化層和涂層厚度,故應在示值中扣除。 
       (3)新式儀器在測曲率較大的工件或小直徑管子時必須使用探頭座,并使用黏度較大的耦合劑,使其接觸良好。 
       (4)測量管壁厚度時,探頭中間的隔聲層應與被測管子的軸線平行,以增大探頭晶片與工件的接觸面,過去采取隔聲層與管子軸線垂直的測量方法是不合理的。 
       (5)在測表面有嚴重麻點和凹坑的工件時,應選用聲阻抗大、黏度高的甘油、凡士林或專用超聲耦合劑。 
       (6)測厚中出現(xiàn)示值跳躍不定時,不要輕意確定測厚結果,此時可輕微移動探頭,并用手指將探頭壓緊在測點上,待示值穩(wěn)定不動時方可取值。 
       (7)測厚時示值輕微閃爍跳動,一般應以較小測值為準。 
       3.示值的可靠性及其分析 
       用測厚儀測出的示值有時與實際情況或預想的結果不符,可能有以下原因: 
       (1)儀器誤差和精度。一般儀器誤差為±0.1% --0.5%,再加上±0.1mm的精度誤差另外,老式儀器的線路和元件受環(huán)境溫度的影響頗大,故測量時應反復調整或校正。 
       (2)由于測量方法不當造成測量誤差。如用雙晶片探頭測定曲率較大的管子時,如果隔聲層垂直于管子軸線將使示值偏大。 
       (3)壁厚公差。管子制造時必然存在誤差,如小于等于外徑57mm的熱軋無縫鋼管,其公差為±15%,實測時雖然示值高出公稱值也是可能的。 
       (4)氧化層或涂漆太厚。由于測值中包含了漆層及氧化鐵厚度,所以示值偏大。 
       (5)材料代用或圖紙資料有誤。此種情況在工藝管道測量中較常出現(xiàn),尤其是以厚代薄較為常見。由于檢測示值與原資料所標厚度不符,引起對腐蝕減薄情況的錯誤判斷。 
       (6)材料內部缺陷對測值的影響材料內部的缺陷如分層、夾雜、裂紋及含氫介質容器的氫腐蝕對測厚數(shù)值的影響很大。當探頭軸線垂直或接近垂直缺陷的反射面時,儀器可能顯示的是材料表面缺陷的厚度值,如圖4所示。如果缺陷反射面傾斜角度較大或和探頭軸線平行,則晶片可能接收不到回波而無讀數(shù)或數(shù)字跳躍不穩(wěn),此時應多次移動探頭,以獲得穩(wěn)定、準確的測值。 
       對含氫介質壓力容器(如氨合成塔等),由于氫和鋼中的滲碳體還原生成甲烷而導致晶界的腐蝕,產生大量微裂紋和脫碳,使超聲波的衰減、反射、聲速、頻率均受到明顯影響,致使聲波的傳播路線改變、聲程加大,測厚示值增加。



圖4 


       4.測厚部位的選擇 
       測厚的目的是要查清被測物的壁厚狀況,但由于腐蝕、沖刷、磨損的不均勻性,故應選準關鍵、薄弱部位,對確定所檢物的安全狀況是至關重要的。
(1)氣、液體沖刷部位氣、液相流動沖刷到的部位,如塔、器正對流體進口的器壁、管道的彎頭拐角部位等。例如壓縮機二段分離器(圖5),正對進氣管的器壁已被氣體沖刷掉一半壁厚,測厚時如不注意到此局部位置,就不能找出最薄弱點。



圖5 


       直徑700mm繞帶式氨洗塔,大修時全面檢驗,發(fā)現(xiàn)塔內壁升氣帽周圍腐蝕沖刷嚴重。內筒已由原壁厚25mm,減到4.67mm(其他部位24mm)。又如壓縮系統(tǒng)五段管線直徑108mm,壁厚llmm,測厚時彎頭處僅有7mm(圖6)。 
       (2)易腐蝕部位。容器的氣液相界面、沉淀物聚集的死角等部位較其他部位易腐蝕,如廠內1號飽和熱水塔,大修測厚時發(fā)現(xiàn),上塔氣液相界面附近壁厚明顯減?。▓D7),兩塔組焊處由于聚集了沉淀物,也明顯減薄。
                

                                                                             圖6              圖7 

       (3)應力集中部位和焊接熱影響區(qū)。金屬材料在應力作用下腐蝕會加劇,即產生應力腐蝕。有的容器焊完后未進行焊后熱處哩或熱處理工藝不當,使用時在腐蝕性介質作用下(如氨水、硫化氫等),就會加劇腐蝕。容器組焊后,在熔合區(qū)和熱影響區(qū)不僅引起金相組織和機械性能的變化,還會產生較大的焊接殘余應力,加速了腐蝕。如碳化塔的筒體環(huán)焊縫兩側熱影響區(qū)均發(fā)現(xiàn)明顯的腐蝕減薄(圖8),有的容器焊縫附近未見壁厚減薄,但出現(xiàn)了穿孔或裂紋,如廠內的1號、2號綜合塔回收段,塔壁雙焊縫附近曾發(fā)生較大面積的穿孔、裂紋和滲漏,此種情況應引起注意。



圖8

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