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世界儀器儀表發(fā)展突飛猛進(jìn)

http://njchuangji.com 2015年09月19日        

    50年代初期,儀器儀表取得了重大突破,數(shù)字技術(shù)的出現(xiàn)使各種數(shù)字儀器得以問(wèn)世,把模擬儀器的精度、分辨力與測(cè)量速度提高了幾個(gè)量級(jí),為實(shí)現(xiàn)測(cè)試自動(dòng)化打下了良好的基點(diǎn)。60年代中期,測(cè)量技術(shù)又一次取得了進(jìn)展,計(jì)算機(jī)的引入,使儀器的功能發(fā)生了質(zhì)的變化,從個(gè)別電量的測(cè)量轉(zhuǎn)變成測(cè)量整個(gè)系統(tǒng)的待征參數(shù),從單純的接收、顯示轉(zhuǎn)變?yōu)榭刂?、分析、處理、?jì)算與顯示輸出,從用單個(gè)儀器進(jìn)行測(cè)量轉(zhuǎn)變成用測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)量。70年代,計(jì)算機(jī)技術(shù)在儀器儀表中的進(jìn)一步滲透,使電子儀器在傳統(tǒng)的時(shí)域與頻域之外,又出現(xiàn)了數(shù)據(jù)或(Data domain)測(cè)試。80年代,由于微處理器被用到儀器中,儀器前面板開(kāi)始朝鍵盤化方向發(fā)展,過(guò)去直觀的用于調(diào)節(jié)時(shí)基或幅度的旋轉(zhuǎn)度盤,選擇電壓電流等量程或功能的滑動(dòng)開(kāi)關(guān),通、斷開(kāi)關(guān)鍵已經(jīng)消失。測(cè)量系統(tǒng)的主要模式,是采用機(jī)柜形式,全部通過(guò)IEEE-488總線送到一個(gè)控制品上。測(cè)試時(shí),可用豐富的BASIC語(yǔ)言程序來(lái)高速測(cè)試。不同于傳統(tǒng)獨(dú)立儀器模式的個(gè)人儀器已經(jīng)得到了發(fā)展。90年代,儀器儀表與測(cè)量科學(xué)進(jìn)步取得重大的突破性進(jìn)展。這個(gè)進(jìn)展的主要標(biāo)志是儀器儀表智能化程度的提高。突出表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:微電子技術(shù)的進(jìn)步將更深刻地影響儀器儀表的設(shè)計(jì):DSP芯片的大量問(wèn)世,使儀器儀表數(shù)字信號(hào)處理功能大大加強(qiáng);微型機(jī)的發(fā)展,使儀器儀表具有更強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力;圖像處理功能的增加十分普遍;VXI總線得到廣泛的應(yīng)用。

  一、圓外儀器儀表發(fā)展特點(diǎn):

  1、新技術(shù)的應(yīng)用。目前普遍采用EDA(電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化)、CAM(計(jì)算機(jī)輔助制造)、CAT(計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試)、DSP(數(shù)字信號(hào)處理)、ASIC(專用集成電路)及SMT(表面貼裝技術(shù))等。

  2、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)變化。注重性能價(jià)格化。在重視高檔儀器開(kāi)發(fā)的同時(shí),注重高新技術(shù)和量大面廣產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)與生產(chǎn)。

  注重系統(tǒng)集成,不僅著眼于單機(jī),更注重系統(tǒng)、產(chǎn)品軟化,隨著各類儀器裝上了CPU,實(shí)現(xiàn)了數(shù)字化后,軟件上投入了巨大的人力、財(cái)力、今后的儀器歸納成一個(gè)簡(jiǎn)單的公式:儀器=AD/DA+CPU+軟件,AD芯片將模擬信號(hào)變成數(shù)字信號(hào),再經(jīng)過(guò)軟件處理變換后用DA輸出。

  3、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)準(zhǔn)則發(fā)生了變化。從技術(shù)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)為市場(chǎng)驅(qū)動(dòng),從一味追求高精尖轉(zhuǎn)為“恰到好處”。開(kāi)發(fā)一項(xiàng)成功產(chǎn)品的準(zhǔn)則是,用戶有明確的需求;能用最短的開(kāi)發(fā)時(shí)間投放市場(chǎng);功能與性能要恰到好處;產(chǎn)品開(kāi)發(fā)準(zhǔn)則的另一變化是收縮方向,集中優(yōu)勢(shì)。

  4、生產(chǎn)技術(shù)注重專業(yè)生產(chǎn),不大而全。生產(chǎn)過(guò)程采用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。目前多以GP-IB儀器組建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。生產(chǎn)線上盡是一個(gè)個(gè)大的測(cè)試柜,快速地進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試、統(tǒng)計(jì)、分析、打印出結(jié)果。

  二、國(guó)外儀器儀表發(fā)展趨勢(shì)

  1、自動(dòng)化儀器的發(fā)展趨勢(shì)

  工業(yè)自動(dòng)化控制儀表主要包括變送器、調(diào)節(jié)器、調(diào)節(jié)閥等設(shè)備,控制儀表從基地式調(diào)節(jié)器(變送、指示、調(diào)節(jié)一體化的儀表)開(kāi)始,經(jīng)歷了氣功、電動(dòng)單元組合儀表到計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)(DDC),直到今日的分散控制系統(tǒng)DCS。DCS已經(jīng)走過(guò)了20多年的里程,DCS,以其高度的可靠性、方便的組態(tài)軟件、豐富的控制算法、開(kāi)放的聯(lián)網(wǎng)能力等優(yōu)點(diǎn),得到迅速的發(fā)展,成為計(jì)算機(jī)工業(yè)控制系統(tǒng)的主流。PLC以其結(jié)構(gòu)緊湊、功能簡(jiǎn)單、速度快、可靠性高、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn),迅速獲得廣泛應(yīng)用,已成為與DCS并駕齊驅(qū)的另一種主流工業(yè)控制系統(tǒng)。目前以PLC為基礎(chǔ)的DCS發(fā)展很快,PLC與DCS相互滲透、相互融合、相互競(jìng)爭(zhēng),已成為當(dāng)前工業(yè)控制系統(tǒng)的發(fā)展趨勢(shì)。

  DCS經(jīng)歷了初創(chuàng)(1975-1980)、成熟(1980-1985)、擴(kuò)展(1985年以后)幾個(gè)發(fā)展時(shí)期,在控制功能完善、信息處理能力、速度及組態(tài)軟件等方面取得令人矚目的成就,已經(jīng)成為計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)的主流。當(dāng)今幾乎每個(gè)發(fā)達(dá)國(guó)家都生產(chǎn)自己的DCS,生產(chǎn)廠家一百多家, 已銷售幾萬(wàn)臺(tái)套。主要生產(chǎn)廠家集中在美國(guó)、日本、德國(guó)等多家公司,如美國(guó)霍尼韋爾(Honewell)的TDC300、TDC3000X、S9000;Foxboro的I/AS;Westing house的WDPF;ABB的MOD300;日本橫河(YOKOY2 W2)的CENUM、Mxl;日立的HIACS3000、5000;德國(guó)西門子(Siemens)的TelenermM、SIPAOS200;貝萊(BAILEY)的N90。

  目前世界上約有200家PLC生產(chǎn)廠家,目前占控制市場(chǎng)份額30%。主要生產(chǎn)廠家有美國(guó)的AB公司、莫迪康公司、GE公司、德國(guó)的西門子公司、法國(guó)的Teteme Cangue公司、 日本的歐姆龍公司;三菱電機(jī)公司。PLC將與IPC、DCS集成,PLC逐漸成為占自動(dòng)化裝置及過(guò)程控制系統(tǒng)最大市場(chǎng)份額的產(chǎn)品。據(jù)美國(guó)專家預(yù)測(cè),到2000年P(guān)LC占控制市場(chǎng)份額將超過(guò)50%。

  現(xiàn)場(chǎng)總線技術(shù)是九十年代迅速發(fā)展起來(lái)的一種用于各種現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)化設(shè)備與其控制系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)通信技術(shù),是一種用于各種現(xiàn)場(chǎng)儀表(包括變送器、執(zhí)行器、記錄儀、單回路調(diào)節(jié)器、可編程序控制器、流程分析器等)與基于計(jì)算機(jī)的控制系統(tǒng)之間進(jìn)行的數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)。有人預(yù)測(cè):基于現(xiàn)場(chǎng)總線FCS(Fieidbus Control System)將取代DCS成為控制系統(tǒng)的主角,Internet和Intranet技術(shù)也將進(jìn)入控制領(lǐng)域,計(jì)算機(jī)自動(dòng)化系統(tǒng)滲透到企業(yè)從生產(chǎn)到管理、直到經(jīng)營(yíng)的方方面面。

  全球的自動(dòng)化儀表產(chǎn)品市場(chǎng)需求將快速增長(zhǎng)。過(guò)程自動(dòng)化儀表產(chǎn)品市場(chǎng)銷售額,在1996年達(dá)到461億美元,到2001年將增長(zhǎng)到599億美元,預(yù)計(jì)到2006年將達(dá)到700億美元。從1996年到2001年間的年平均增長(zhǎng)率為3.9%,而從2001年到2006年年平均增長(zhǎng)率將達(dá)到4.6%,以不變價(jià)格計(jì)算,則2006年的銷售額為761億美元。主要應(yīng)用于玻璃、陶瓷、鋼鐵和有限金屬工業(yè)、軋鋼和鋁板材工業(yè)、化學(xué)、食品和制藥業(yè)、石化工業(yè)、紙漿和造紙業(yè)、環(huán)保、礦山、石油和天燃?xì)夤I(yè)等。

  在1996年的自動(dòng)化產(chǎn)品,系統(tǒng)和維修的461億美元中,有406億美元是屬于自動(dòng)化工程項(xiàng)目方面,有54億美元是用于操作方面。測(cè)量和自動(dòng)化技術(shù)作為新的投資,在工廠現(xiàn)代化技資中將增長(zhǎng)2~3倍。到2006年全球過(guò)程自動(dòng)化產(chǎn)品的市場(chǎng)需求情況為:礦山工業(yè)為70億美元、原材料工業(yè)為90億美元、過(guò)程工業(yè)為360億美元、電站為110億美元、環(huán)保工業(yè)為70億美元。就全球地區(qū)而言,北美占27.2%、西歐占26%、亞非(不包括日本)占21.1%、日本占12.3%、東歐占4.7%、南美占4.9%,其它地區(qū)占3.7%,從中看出亞非地區(qū)的市場(chǎng)發(fā)展前景最好。

  2.科學(xué)儀器的發(fā)展趨勢(shì)

  (1)現(xiàn)代光學(xué)儀器的發(fā)展趨勢(shì)

  從傳統(tǒng)光學(xué)儀器轉(zhuǎn)變現(xiàn)代光學(xué)儀器,關(guān)鍵在于計(jì)算機(jī)化,而微電子技術(shù)是基礎(chǔ)。光譜儀器發(fā)展最快,發(fā)達(dá)國(guó)家80年代巳實(shí)現(xiàn)微機(jī)化,現(xiàn)已向聯(lián)用技術(shù)、全自動(dòng)化(如內(nèi)裝機(jī)械手等機(jī)器人系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)元人操作),實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)自動(dòng)化及智能化方向發(fā)展。光學(xué)計(jì)量?jī)x器從大型精密儀器——三座標(biāo)測(cè)量機(jī)到傳統(tǒng)的自準(zhǔn)直儀和投影儀都已實(shí)現(xiàn)微機(jī)化、光電化;激光技術(shù)的結(jié)合和CCD等光電器件的引人, 更為快速、準(zhǔn)確、可靠的在線檢測(cè)和監(jiān)控創(chuàng)造了條件。

  未來(lái)10年,由于高新技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用,將進(jìn)一步推動(dòng)光學(xué)儀器實(shí)現(xiàn)光機(jī)電算一體化和智能化。現(xiàn)今的智能化儀器更確切地應(yīng)稱為“微機(jī)化”儀器。而更高程度的智能化是信息技術(shù)的最高層次,應(yīng)包括理解、推理、判斷與分析等一系列功能,是數(shù)值、邏輯與知識(shí)的結(jié)合分析結(jié)果,智能化的標(biāo)志是知識(shí)的表達(dá)與應(yīng)用。電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)和光電器件的不斷發(fā)展和功能的完善,為儀器向更高檔次的智能發(fā)展創(chuàng)造了條件。

  未來(lái)10年,光和電的滲透會(huì)進(jìn)一步強(qiáng)化,更多的新技術(shù)、新器件推廣應(yīng)用,因而在光機(jī)電算一體化的基礎(chǔ)上融入不同原理,派生出新用途的產(chǎn)品,以滿足各領(lǐng)域日益增長(zhǎng)的需求。具有優(yōu)異性能的光電器件和功能材料的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用,將加速現(xiàn)代光學(xué)儀器的發(fā)展。如CCD器件、半導(dǎo)體激光器、光纖傳感器等制造技術(shù)趨于成熟,實(shí)現(xiàn)應(yīng)用已獲突破,顯示了廣泛的應(yīng)用前景。它必將使光學(xué)儀器領(lǐng)域發(fā)生重要變革,推動(dòng)產(chǎn)品向小型化、高分辨、光電化和自動(dòng)化發(fā)展。

  (2)光學(xué)計(jì)量?jī)x器的發(fā)展趨勢(shì)

  未來(lái)的光學(xué)計(jì)量?jī)x器儀表是簡(jiǎn)化設(shè)計(jì),大量壓縮零部件,提高智能化和便于操作,發(fā)展在線計(jì)量測(cè)試儀器儀表。

  利用物理學(xué)的新效應(yīng)和高新技術(shù)及其成就開(kāi)發(fā)新型計(jì)量測(cè)試儀器儀表和新型高靈敏度、高穩(wěn)定性、強(qiáng)抗干擾能力的新型傳感器技術(shù)。

  如:利用高溫超導(dǎo)量子干涉器(SGUID)開(kāi)發(fā)計(jì)量測(cè)試儀器、物理學(xué)測(cè)試儀器、地學(xué)和地質(zhì)學(xué)儀器、化學(xué)分析儀器、醫(yī)學(xué)儀器、無(wú)損材料檢驗(yàn)儀器等。利用橢偏技術(shù)來(lái)檢測(cè)光纖、光學(xué)玻璃等,這是大家所共知的,它與近場(chǎng)光學(xué)相結(jié)合,不僅可以測(cè)量表面精細(xì)結(jié)構(gòu), 同時(shí)根據(jù)近場(chǎng)光學(xué)反射偏振信息可以分辨出被測(cè)物體的材料,這是目前實(shí)驗(yàn)研究的新探索。將可調(diào)諧穩(wěn)頻激光光譜儀的技術(shù)用于高精密的幾何量與機(jī)械量和多種無(wú)形態(tài)的量的測(cè)量。開(kāi)發(fā)以新一代微型光纖傳導(dǎo)激光干涉儀,它的測(cè)量范圍可以從納米到幾米或更大的范圍,分辨率可達(dá)1Onm,并且克服了HP激光干涉儀的缺點(diǎn),它具有四激光干涉儀的一切功能;另外,它還可用于稱重,研制新型電子天平、高精度的電子皮帶稱、高分辨率的壓力計(jì)等。發(fā)展納米測(cè)量技術(shù),建立納米計(jì)量測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),這是當(dāng)今在計(jì)量與測(cè)量技術(shù)研究中十分活躍的課題。

  發(fā)展微量機(jī)器人。類似的測(cè)量?jī)x器己出現(xiàn),即Zeiss的Scan Max三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。

  它是利用了智能機(jī)器人技術(shù),但要保證測(cè)量量值的計(jì)量正確性是一個(gè)十分復(fù)雜理論和技術(shù)問(wèn)題。目前已得到了初步解決。

 

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