為測試著想的設計(DFT, design for test)不是單個人的事情，而是由設計工程部、測試工程部、制造部和采購部的代表所組成的一個小組的工作。設計工程必須規(guī)定功能產品及其誤差要求。測試工程必須提供一個以最低的成本、最少的返工達到僅盡可能高的第一次通過合格率(FPY, first-pass yield)的策略。制造部和品質部必須提供生產成本輸入、在過去類似的產品中什么已經做過、什么沒有做過、以及有關為產量著想的設計(DFV, design for volume)提高產量的幫助。采購部必須提供可獲得元件，特別是可靠性的信息。測試部和采購部在購買在板(on-board)測試硬件的元件時，必須一起工作以保證這些元件是可獲得的和易于實施的。通常把測試系統當作收集有關歷史數據的傳感器使用，達到過程的改善，這應該是品質小組的目標。所以這些功能應該在放置/拿掉任何節(jié)點選取之前完成。

　　參數 　　
　　在制訂測試環(huán)境的政策之前，準備和了解是關鍵的。影響測試策略的參數包括：可訪問性。完全訪問和大的測試焊盤總是為制造設計電路板的目標。通常不能提供完全訪問有四個原因：

　　板的尺寸。設計更??；問題是測試焊盤的“額外的”占板空間。不幸的是，多數設計工程師認為測試焊的可訪問性是印刷電路板上(PCB)較不重要的事情。當由于不能使用在線測試儀(ICT, in-circuit tester)的簡單診斷，產品必須由設計工程師來調試的時候，情況就會是另一回事。如果不能提供完全訪問，測試選擇是有限的。 

　　功能。在高速設計中損失的性能影響板的部分，但可以逐步縮小在產品可測試性上的影響。 

　　板的尺寸/節(jié)點數。這是當物理板得尺寸在任何現有的設備上都不能測試的時候。慶幸的是，這個問題可以在新的測試設備上或者使用外部的測試設施上增加預算來得到解決。當節(jié)點數大于現有的ICT，問題更難解決。DFT小組必須了解測試方法，這些方法將允許制造部門使用最少的時間與金錢來輸出好的產品。嵌入式自測、邊界掃描(BS, boundary scan)和功能塊測試可做到這點。診斷必須支持測試下的單元(UUT, unit under test)；這個只能通過對使用的測試方法、現有測試設備與能力、和制造環(huán)境的故障頻譜的深入了解才做得到。 

　　DFT規(guī)則沒有使用、遵守或理解。歷史上，DFT規(guī)則由理解制造環(huán)境、過程與功能測試要求和元件技術的一個工程師或工程師小組強制執(zhí)行。在實際環(huán)境中，過程是漫長的，要求設計、計算機輔助設計(CAD)與測試之間的相互溝通。這個泛味的重復性工作容易產生人為錯誤，經常由于到達市場的時間(time-to-market)壓力而匆匆而過?，F在工業(yè)上已經有開始使用自動“可生產性分析儀”，利用DFT規(guī)則來評估CAD文件。當合約制造商(CM, contract manufacturer)使用時，可分類出多套規(guī)則。規(guī)則的連續(xù)性和無差錯產品評估是這個方法的優(yōu)點。 
　　
　　測試設備的可獲得性 　DFT小組應該清楚現有的測試策略。隨著OEM轉向依靠CM越來越多，使用的設備廠與廠之間都不同。沒有清楚地理解制造商工藝，可能會采用太多或太少的測試?，F存的測試方法包括：

　　手工或自動視覺測試，使用視覺與比較來確認PCB上的元件貼裝。這個技術有幾種實施方法： 

　　手動視覺是最廣泛使用的在線測試，但由于制造產量增加和板與元件的縮小，這個方法變得不可行。 它的主要優(yōu)點是低的預先成本和沒有測試夾具，而它的主要缺點是高長期成本、不連續(xù)的缺陷發(fā)覺、數據收集困難、無電氣測試和視覺上的局限。 

　　自動光學檢查(AOI, automated optical inspection)，通常在回流前后使用，是較新的確認制造缺陷的方法。它是非電氣的、無夾具的、在線技術，使用了“學習與比較(learn and compare)”編程來使裝料(ramp-up)時間最小。自動視覺對極性、元件存在與不存在的檢查較好，只要后面的元件與原來所“學”的元件類似即可。它的主要優(yōu)點是易于跟隨診斷、快速容易程序開發(fā)、和無夾具。其主要缺點是對短路識別較差、高失效率和不是電氣測試。 

　　自動X光檢查(AXI, automated X-ray inspection)是現時測試球柵陣列(BGA, ball grid array)焊接質量和被遮擋的錫球的唯一方法。它是早期查找過程缺陷的、非電氣、非接觸的技術，減少了過程工作(WIP, work-in-process)。這個領域的進步包括通過/失效數據和元件級的診斷?，F在有兩種主要的AXI方法：兩維(2-D)，看完整的板，三維(3-D)，在不同角度拍攝多個圖象。其主要優(yōu)點是唯一的BGA焊接質量和嵌入式元件檢查工具、無夾具成本。其主要缺點是速度慢、高失效率、檢測返工焊點困難、高的每塊板成本、和長的程序開發(fā)時間。 

　　制造缺陷分析儀(MDA, manufacturing defect analyzer)是一個用于高產量/低混合環(huán)境的好工具，這里測試只用于診斷制造缺陷。當沒有使用殘留降低技術時，測試機之間的可重復性是一個問題。還有，MDA沒有數字驅動器，因此不能功能上測試元件或者編程板上的固件(firmware)。測試時間比視覺測試少，因此MDA能夠趕上生產線的節(jié)拍速度。這個方法使用一個針床，因此可以接著診斷輸出。其主要優(yōu)點較低的前期成本、較低WIP、低的編程與程序維護成本、高輸出、容易跟隨診斷、和快速完全的短路與開路測試。其主要缺點是不能確認材料清單(BOM, bill of material)是否符合在測單元(UUT, unit under test)、沒有數字式確認、沒有功能測試能力、不能調用固件(firmware)、通常沒有測試覆蓋指示、板與板線與線之間的可重復性、夾具成本、以及使用問題。 

　　ICT將找出制造缺陷以及測試模擬、數字合混合信號的元件，以保證它們符合規(guī)格。許多設備具有編程在板(on-board)內存的能力，包括系列號、通過/失效和系統數據(genealogy data)。有些設備使得程序產生較容易，它是通過把工具嵌入到易于使用的圖形用戶接口(GUI, graphical user interfaces)，和存儲代碼到一個專門文件來使得可以實現多版本測試和固件(firmware)變換容易的。有些設備具有復雜的儀器裝備，它將確認UUT的功能方面，以及與商業(yè)可購買的儀器的接口。現在的測試設備具有嵌入的計算機輔助設計(CAD)接口和一個非多元環(huán)境來縮短開發(fā)時間。最后，有些測試機提供深入的UUT覆蓋分析，它祥述正在測試或沒有測試的元件?！CT的主要優(yōu)點是每個板的測試成本低、數字與功能測試能力、高輸出、良好的診斷、快速和徹底的短路與開路測試、編程固件、缺陷覆蓋報考和易于編程。其主要缺點是，夾具、編程與調試時間、夾具成本、預期開支和使用問題。 

　　飛針測試機(flying-probe tester)在過去幾年已經受到歡迎，由于在機械精度、速度和可靠性方面的進步。另外，現在對于原型(prototype)制造、低產量制造所要求的快速轉換、無夾具測試系統的市場要求，已經使得飛針測試成為所希望的測試選擇。最好的探針方案提供學習的能力(learn capability)以及BOM測試，它在測試過程中自動增加監(jiān)測。探針的軟件應該提供裝載CAD數據的簡便方法，因為X-Y和BOM數據在編程時必須用到。因為節(jié)點可訪問性可能在板的一面不完整，所以測試生成軟件應該自動生成不重復的分割程序。探針使用無向量(vectorless)技術測試數字、模擬和混合信號元件的連接；這個應該通過使用者可用于UUT兩面的電容板(capacitive plate)來完成。飛針測試機的主要優(yōu)點是，它是最快速的到達市場時間(time-to-market)的工具、自動測試生成、無夾具成本、良好的診斷和易于編程。主要缺點是低產量、局限的數字覆蓋、固定資產開支和使用問題。 
功能測試(functional test)，可以說是最早的自動測試原理，在重要性上已經看到恢復活力。它是特定板或特定單元的，可用各種設備來完成。幾個例子：　最終產品測試(final product test)是最常見的功能測試方法。測試裝配后的最后單元是開支不大的，減少操作的錯誤?？墒?，診斷是不存在的或者困難，這樣增加成本。只測試最終產品，有機會損壞產品，如果沒有自動測試所提供的軟件或硬件的保護。最終產品的測試也是慢的，通常占用較大的空間。當必須滿足標準時通常不使用該方法，因為它通常不支持參數測量?！∽罱K產品測試的主要優(yōu)點是最低的初始成本、一次裝配、和產品與品質的保證。其主要缺點包括低診斷分辨、缺乏速度、高長期成本、FPY、由于不發(fā)覺的短路引起的板或機器的損壞、返修成本高、以及無參數測試能力。 

　　最新實體模型(hot mock-up)通常放在不同的裝配階段，而不是只在最終測試。在診斷上，它好過最終產品測試，但由于必須建立專門測試單元而成本較高。實體模型可能比最終產品測試更快，如果程序調試只測試一個特定的板。不幸的是，由于缺少保護，如果短路在前面的過程中沒有診斷處理則可能損壞測試床。其主要優(yōu)點是低初始成本。主要缺點是空間使用效率低、維護測試設備的成本、由于短路而損壞UUT和無參數測試能力。 

　　軟件控制、可商業(yè)購買的儀器(software-controlled, commercial available instrument)通常叫做“堆砌式”測試("rack and stack" test)，因為儀器是分別購買，然后連接起來的。同步設備的軟件通常完全用戶化。商業(yè)可購買的儀器比較集成方案是不貴的，如果正確完成，允許獨立的UUT有效性。但這個“自制的”系統通常較慢，工程更改與生產現場支持困難，因為這些應用是內部存檔的(under-documented)?！∑渲饕獌?yōu)點是保護UUT的損壞、較快的輸出、要求占地空間小、和獨立的/工業(yè)可接受的校驗。主要缺點是費時、支持困難、在遠距離設施上更新與使用。 

　　商業(yè)、用戶集成系統(commercial, custom integrated system)在一個測試平臺上耦合軟件與硬件，例如，IEEE、VXI、Compact PCI 或 PXI。文件存檔、軟件支持和標準制造概念使得這些系統易于使用和支持。前期成本比內部建立方案較高，但這個成本是可調節(jié)的，因為較高的性能、輸出和可重復性。它也易于生產現場和新產品開發(fā)期間的支持。主要優(yōu)點是快速輸出、要求較少地面空間、最容易支持和重新設定、最好的可重復性、和提供獨立的工業(yè)可接受較驗。主要缺點是高初始成本。 

　　諸如激光系統這樣的非接觸測試方法是PCB測試技術的最新發(fā)展。該技術已經在空板(bare-board)區(qū)域得到證實，正考慮用于裝配板(populated board)的測試。該技術只用視線(line-of-sight)、非遮蓋訪問(non-masked access)來發(fā)現缺陷。每個測試至少10毫秒，速度足夠用于批量生產線。　快速輸出、不要求夾具、和視線/非遮蓋訪問是其主要優(yōu)點；未經生產試用、高初始成本、高維護和使用問題是其主要缺點?！”硪豢偨Y了所描述的測試方法。